分體式設(shè)計(jì),鐵鋁兩用

0.5秒即可測(cè)量出數(shù)據(jù)
無(wú)需繁瑣校準(zhǔn),調(diào)零即可精確測(cè)量
鐵鋁兩用,自動(dòng)識(shí)別測(cè)量的基材,并自動(dòng)轉(zhuǎn)換

JN221涂層測(cè)厚儀也叫鍍層測(cè)厚儀、覆層測(cè)厚儀,是一款專(zhuān)業(yè)檢測(cè)金屬表面涂層厚度的儀器。儀器采用了霍爾效應(yīng)和電渦流兩種測(cè)量原理設(shè)計(jì),霍爾效應(yīng)可測(cè)量鐵磁性金屬基體上非鐵磁性涂鍍層的厚度; 電渦流測(cè)量非磁性金屬基體上的非導(dǎo)電涂層的厚度。主機(jī)與探頭采用分體式的設(shè)計(jì),便于在復(fù)雜的測(cè)試條件下一邊測(cè)試一邊查看數(shù)據(jù)。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。

常溫下鐵磁性金屬元素只有四種:鐵、鈷、鎳、釓。

常見(jiàn)非鐵磁性金屬:銅、鋁、鎂、鋅、鉻等。


基材涂鍍層材料舉例是否可測(cè)
鐵磁性材料
鐵,鈷,鎳,釓
非鐵磁性金屬鐵鍍鋅
鐵鍍銅
非金屬材料鐵噴漆
鐵噴粉末涂層
鐵磁性材料
鐵,鈷,鎳,釓
鐵鍍鎳×
非鐵磁性金屬
銅、鋁、鎂、鋅等
非導(dǎo)電材料鋁表面陽(yáng)極氧化物
銅噴漆
導(dǎo)電材料銅鍍鉻×

JN221涂層測(cè)厚儀被廣泛應(yīng)用于金屬加工業(yè)、涂料行業(yè)、五金件行業(yè)、船舶業(yè)、航天航空業(yè)等領(lǐng)域。

產(chǎn)品參數(shù)

參數(shù)名參數(shù)值
測(cè)頭尖端紅寶石固定
測(cè)量原理Fe:霍爾效應(yīng)/NFe:電渦流效應(yīng)
探頭類(lèi)型外置連線式
測(cè)量范圍0.0-5000μm
分辨率0.1μm:0μm-99.9μm
1μm:100μm-999μm
0.01mm:1.00mm-5.00mm
測(cè)量精度≤±(3%H+2μm)H為標(biāo)準(zhǔn)值
單位μm / mil
測(cè)量間隔0.5s
最小測(cè)量區(qū)域? = 25mm
最小曲率半徑凸面:5mm / 凹面:25mm
最小基體厚度Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
顯示128×48點(diǎn)陣LCD
供電方式2節(jié) 1.5V AAA堿性電池
工作溫度范圍0℃ ~ 50℃
存儲(chǔ)溫度范圍-20℃~60℃
主機(jī)尺寸101*62*28 mm
探頭尺寸71*26*22 mm
重量(含電池)114g

儀器特點(diǎn)


鐵鋁兩用,自動(dòng)轉(zhuǎn)換

應(yīng)用雙原理測(cè)量技術(shù),能夠自動(dòng)識(shí)別磁性或非磁性基材,并且可自動(dòng)完成基材轉(zhuǎn)換

數(shù)字探頭技術(shù),不受干擾

先進(jìn)的數(shù)字探頭技術(shù),數(shù)字信號(hào)處理直接在探頭上完成,探頭不易受到干擾并且提供優(yōu)良的測(cè)試精度

三種測(cè)量模式可選

鐵基測(cè)量(Fe)、非鐵基測(cè)量(NFe)和自動(dòng)識(shí)別(Fe/NFe)三種測(cè)量模式

響應(yīng)速度快

高靈敏探頭,測(cè)試反應(yīng)速度
非常快,0.5秒即可測(cè)出數(shù)據(jù)

測(cè)試精度高

負(fù)數(shù)顯示功能,保證儀器零
位點(diǎn)校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性,提高測(cè)
試精度

低功耗設(shè)計(jì)

低功耗設(shè)計(jì),在待機(jī)狀態(tài)下的
電流不到0.01微安

溫度補(bǔ)償技術(shù)

采用溫度補(bǔ)償技術(shù),即使溫度
變化也不會(huì)影響測(cè)量結(jié)果,確
保了儀器在不同環(huán)境溫度下的
測(cè)量精度

紅寶石測(cè)頭,超耐磨、更耐用

測(cè)頭尖端采用紅寶石固定,確保儀器長(zhǎng)期
測(cè)試也不會(huì)造成探頭磨損,延長(zhǎng)使用壽命


產(chǎn)品資質(zhì)及符合的標(biāo)準(zhǔn)

產(chǎn)品依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):

GB/T 4956-2003  磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 磁性法

GB/T 4957-2003  非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 渦流法

DIN EN ISO 2808-2019 涂料和清漆. 漆膜厚度的測(cè)定

JJG-818-2005 磁性、電渦流式覆蓋厚度測(cè)量?jī)x檢定規(guī)程